Publicaties
2024
Examining the influence of W thickness on the Si-on-W Interface: A comparative metrology analysis, Article 160615 (E-pub ahead of print/First online). Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E., Woitok, J. F., Lokhorst, H. W., Phadke, P. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160615The effect of W thickness on the interface Si-on-W, a Low-Energy Ion Scattering study. Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E. & Ackermann, M.
2023
Resolving buried interfaces by Low-Energy Ion Scattering. Valpreda, A.Resolving buried interfaces with low energy ion scattering, Article 043203. Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1116/6.0002567
2022
Simulation of LEIS spectra: use of a Monte Carlo code to calculate reionization. Valpreda, A., Zameshin, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. & Ackermann, M.
Onderzoeksprofielen
Vakken collegejaar 2022/2023
Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.
Adres
Universiteit Twente
Carré (gebouwnr. 15), kamer 2.013
Hallenweg 23
7522 NH Enschede
Universiteit Twente
Carré 2.013
Postbus 217
7500 AE Enschede
Scan de QR-code of