Welkom...

prof.dr. D. Meuwly (Didier)

Hoogleraar

Over mij

Ik ben geboren in Fribourg, Zwitserland. Na een klassieke opleiding (Latijn / Filosofie) ben ik afgestudeerd als criminalist en criminoloog (1993) en gepromoveerd (2000), beide aan de School voor Forensische Wetenschappen (Ecole de Sciences Criminelles) van de Universiteit van Lausanne. Ik verdeel mijn tijd tussen het Nederlands Forensisch Instituut (NFI), een agentschap van het Nederlandse Ministerie van Justitie en Veiligheid, waar ik principal scientist ben, en de Universiteit Twente, waar ik de leerstoel Forensische Biometrie bekleed.
Eerder was ik binnen het NFI verantwoordelijk voor de sectie vingerafdrukken en leider van een project over de probabilistische evaluatie van vingerafdrukbewijs. Van 2002 tot 2004 werkte ik als senior forensisch wetenschapper bij de R&D afdeling van de Forensic Science Service (UK-FSS), destijds een uitvoerend agentschap van het Britse Ministerie van Binnenlandse Zaken.
Ik ben associate editor voor Forensic Science International (FSI) en lid van de R&D Standing Committee van het European Network of Forensic Science Institutes (ENFSI-RDSC). Ik ben ook lid van het technisch comité 272 Forensic Science van de ISO, dat de ISO-norm 21043 ontwikkelt.

Expertises

Engineering & Materials Science
Biometrics
Cameras
Closed Circuit Television Systems
Face Recognition
Mathematics
Classifier
Performance Assessment
Social Sciences
Evidence
Surveillance

Onderzoek

Ik ben gespecialiseerd in de automatisering en validatie van het probabilistisch opsporing en bewijsvoering van forensische sporen, en meer specifiek van biometrische sporen.

Publicaties

Recent
Seckiner, D., Mallett, X., Maynard, P. , Meuwly, D., & Roux, C. (2019). Forensic gait analysis — Morphometric assessment from surveillance footage. Forensic science international, 296, 57-66. https://doi.org/10.1016/j.forsciint.2019.01.007
Zeinstra, C. , Meuwly, D. , Veldhuis, R. , & Spreeuwers, L. (2019). Mind the Gap: A practical framework for classifiers in a forensic context. In 2018 IEEE 9th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems, BTAS 2018 [8698583] (IEEE nternational Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS); Vol. 2018). IEEE. https://doi.org/10.1109/BTAS.2018.8698583
Seckiner, D., Mallett, X., Roux, C. , Meuwly, D., & Maynard, P. (2018). Forensic image analysis - CCTV distortion and artefacts. Forensic science international, 285, 77-85. [285]. https://doi.org/10.1016/j.forsciint.2018.01.024

Pure Link

Google Scholar Link

Onderwijs

Cursus inleiding tot biometrie

Forensische biometrie - het gebruik van biometrische gegevens in forensische toepassingen

Masteropleiding Cybercrime, Cybersecurity & Risicomanagement

Casusbeoordeling en -interpretatie in digitale forensische wetenschap

Vakken Collegejaar  2022/2023

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.
 

Vakken Collegejaar  2021/2022

Contactgegevens

Bezoekadres

Universiteit Twente
Faculty of Electrical Engineering, Mathematics and Computer Science
Zilverling (gebouwnr. 11), kamer 4090
Hallenweg 19
7522NH  Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Faculty of Electrical Engineering, Mathematics and Computer Science
Zilverling  4090
Postbus 217
7500 AE Enschede

Social Media