Welkom...

prof.dr. F. Bijkerk (Fred)

Hoogleraar en Programmaleider Industriële Focusgroep XUV Optics

Expertises

Wavelengths
Reflectance
Mirrors
X Rays
Thin Films
Optics
Lithography
Multilayers

Publicaties

Recent
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2018). Isotopic labelling study of oxygen diffusion in oxide thin films by low energy ion scattering. Poster session presented at 14th International Conference on Diffusion in Solids and Liquids 2018, Amsterdam, Netherlands.
Dolgov, A., Lee, C. J., Bijkerk, F., Abrikosov, A., Krivtsun, V. M., Lopaev, D., ... van Kampen, M. (2018). Plasma-assisted oxide removal from ruthenium-coated EUV optics. Journal of applied physics, 123(15), [153301]. DOI: 10.1063/1.5006771

Pure Link

Contactgegevens

Bezoekadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré (gebouwnr. 15), kamer C2025
Hallenweg 23
7522NH  Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré  C2025
Postbus 217
7500 AE Enschede