University of Twente
Personen

Welkom...

prof.dr. F. Bijkerk (Fred)

Hoogleraar en Programmaleider Industriële Focusgroep XUV Optics

Expertises

Multilayers
Mirrors
Wavelengths
Ions
Optics
Gratings
X Rays
Wavelength

Verbonden aan

Publicaties

Recent
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2018). Oxygen diffusion characterization in ultrathin films by low energy ion scattering.
Van Den Bos, R. A. J. M., Reinink, J., Lopaev, D. V., Lee, C. J., Benschop, J. P. H., & Bijkerk, F. (2018). Influence of internal stress and layer thickness on the formation of hydrogen induced thin film blisters in Mo/Si multilayers. Journal of physics D: applied physics, 51(11), [115302]. DOI: 10.1088/1361-6463/aaad86
Zameshin, A. A., Yakshin, A. E., Sturm, J. M., Brongerma, H. H., & Bijkerk, F. (2018). Double matrix effect in Low Energy Ion Scattering from La surfaces. Applied surface science, 440, 570-579. DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.01.174
Mund, B. K., Sturm, J. M., Lee, C. J., & Bijkerk, F. (2018). Aromatic structure degradation of single layer graphene on an amorphous silicon substrate in the presence of water, hydrogen and Extreme Ultraviolet light. Applied surface science, 427(Part B), 1033-1040. DOI: 10.1016/j.apsusc.2017.09.098
Nikolaev, K., Makhotkin, I. A., Yakunin, S. N., van de Kruijs, R. W. E., & Bijkerk, F. (2017). Crystal surface characterization.
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2017). Oxygen diffusion characterization by depth-resolved low energy ion spectroscopy.
Nikolaev, K., Yakunin, S. N., Makhotkin, I. A., van de Kruijs, R. W. E., & Bijkerk, F. (2017). Advanced crystal surface characterization with asymmetrical X-ray diffraction.
Coloma Ribera, R., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E., Yakshin, A., & Bijkerk, F. (2017). In-vacuo growth studies and thermal oxidation of ZrO2 thin films.
van den Bos, R., Benschop, J., Bijkerk, F., & Lee, C. J. (2017). A model for hydrogen induced blister growth in Mo/Si multilayer mirror structures.
Medvedev, R., Yakshin, A., & Bijkerk, F. (2017). Small period multilayer structures for X-ray spectroscopic applications.

Pure Link

Naar mijn profiel

Contactgegevens

+31534894646  (secretaresse)
+31534892863  (bij geen gehoor)
 
 

Bezoekadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré (gebouwnr. 15), kamer 2025
Hallenweg 23
7522NH  Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré  2025
Postbus 217
7500 AE Enschede

Verbonden aan

Universiteit Twente Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede
+31 (0)53 489 9111
info@utwente.nl
Route