Carré
Guest staff

prof.dr. F. Bijkerk (Fred)

Emeritus Hoogleraar XUV Optiek
TNW-NEM-XUV
Carré C2025
f.bijkerk@utwente.nl
Visitekaartje

Expertises

  • Material Science

    • Thin Films
    • Surface
    • Reflectivity
    • Temperature
    • Material

  • Physics

    • Mirrors
    • Optics

  • Chemistry

    • Liquid Film

Organisaties

Publicaties

2023

EUV Source Metrology (2023)In Photon Sources for Lithography and Metrology (pp. 509-535). Bayraktar, M., Liu, F., Versolato, O. & Bijkerk, F.https://doi.org/10.1117/3.2638242.ch13Corrigendum to “In situ ellipsometry study of atomic hydrogen etching of extreme ultraviolet induced carbon layers” [Appl. Surf. Sci. 258(1) (2011) 7–12] (2023)Applied surface science, 618. Article 155765. Chen, J., Louis, E., Harmsen, R., Tsarfati, T., Wormeester, H., van Kampen, M., van Schaik, W., van de Kruijs, R. & Bijkerk, F.https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2022.155765Active Wafer Table Based on Piezoelectric Thin Films (2023)[Contribution to conference › Poster] NWO Physics 2023. Şimşek, E., Vries, S. E., Jansen, B., Steur, M., Bijkerk, F., Bayraktar, M. & Ackermann, M.

2022

Surface and interface diffusion processes in nanoscale thin films (2022)[Thesis › PhD Thesis - Research UT, graduation UT]. University of Twente. Chandrasekaran, A.https://doi.org/10.3990/1.9789036554763Fracture behavior and characterization of free-standing metal silicide thin films (2022)[Thesis › PhD Thesis - Research UT, graduation UT]. University of Twente. Shafikov, A.https://doi.org/10.3990/1.9789036554251Influence of the Template Layer on the Structure and Ferroelectric Properties of PbZr<sub>0.52</sub>Ti<sub>0.48</sub>O<sub>3</sub> Films (2022)ACS Omega, 7(26), 22210-22220. Lucke, P., Nematollahi, M., Bayraktar, M., Yakshin, A. E., Elshof, J. E. t. & Bijkerk, F.https://doi.org/10.1021/acsomega.2c00815Sputter yields of monoatomic solids by Ar and Ne ions near the threshold: A Bayesian analysis of the Yamamura Model (2022)Nuclear instruments and methods in physics research. Section B : Beam interactions with materials and atoms, 520, 29-39. Phadke, P., Zameshin, A. A., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E. & Bijkerk, F.https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.03.016Relation between composition and fracture strength in off-stoichiometric metal silicide free-standing membranes (2022)Intermetallics, 144. Article 107531. Shafikov, A., van de Kruijs, R. W. E., Benschop, J. P. H., Schurink, B., van den Beld, W. T. E., Houweling, Z. S., Kooi, B. J., Ahmadi, M., de Graaf, S. & Bijkerk, F.https://doi.org/10.1016/j.intermet.2022.107531Synthesis and Characterization of Boron Thin Films Using Chemical and Physical Vapor Depositions (2022)Coatings, 12 (5). Article 685. Schurink, B., van den Beld, W., Tiggelaar, R. M., van de Kruijs, R. W. E. & Bijkerk, F.https://doi.org/10.3390/coatings12050685Nucleation, growth and hydrogen resistance of multi-layer graphene (2022)[Thesis › PhD Thesis - Research UT, graduation UT]. University of Twente. Kizir, S.https://doi.org/10.3990/1.9789036552820

Onderzoeksprofielen

Vakken collegejaar 2024/2025

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

Vakken collegejaar 2023/2024

Scan de QR-code of
Download vCard