Carré

H.W. Lokhorst MSc (Niek)

Promovendus
TNW-NEM-XUV
Carré C2015
h.w.lokhorst@utwente.nl
+31534891355
Visitekaartje

Expertises

  • Material Science

    • Film
    • Thin Films
    • Amorphous Silicon
    • Nanostructure
    • Reflectivity

  • Physics

    • Nanomaterial
    • Silicon Films
    • X-Ray Reflectivity

Organisaties

Publicaties

2026

Using Monte Carlo-based Uncertainty Quantification for Free-Form XRR (2026)[Contribution to conference › Poster] NWO Physics 2026. Lokhorst, H. W., van de Kruijs, R. W. E., Makhotkin, I. A., Schlottbom, M. & Ackermann, M.

2025

Beyond the bulk: probing the EUV optical constants of nanoscale amorphous silicon films (2025)Optics express, 33(25), 52978-52989. Naghdi, S., Woitok, J., Tiwari, A., Lokhorst, H. W., Soltwisch, V. & Makhotkin, I.https://doi.org/10.1364/OE.578082Using Monte Carlo-based Uncertainty Quantification for Free-Form XRR (2025)[Contribution to conference › Poster] 8th PTB-Seminar on VUV and EUV Metrology 2025. Lokhorst, H. W., van de Kruijs, R. W. E., Makhotkin, I. A., Schlottbom, M. & Ackermann, M.Unveiling the effect of adding B4C at the W-on-Si interface (2025)Surfaces and Interfaces, 72. Article 107471. Valpreda, A., Lokhorst, H. W., Sturm, J. M., Yakshin, A. E. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1016/j.surfin.2025.107471Using Monte Carlo-based methods for Uncertainty Quantification for XRR (2025)[Contribution to conference › Poster] International Workshop on X-Ray and Neutron Multilayer Structures, PXRNMS 2025. Lokhorst, H. W., van de Kruijs, R. W. E., Makhotkin, I. A., Schlottbom, M. & Ackermann, M.Instrumentation and uncertainty evaluation for absolute characterization of thin films and nanostructured surfaces in advanced optical metrology (2025)Metrologia, 62(2). Article 025010. Hansen, P.-E., Siaudinyte, L., Heidenreich, S., Soltwisch, V., Lokhorst, H. W., Tiwari, A., Makhotkin, I., Mattila, A., Lassila, A., Glabisch, S., Schröder, S., Brose, S., Nolot, E., Siefke, T., Asar, M., Memis, S., Yíldíz, F., Schiek, M. & Rømer, A. T.https://doi.org/10.1088/1681-7575/adbbf3

Onderzoeksprofielen

Vakken collegejaar 2025/2026

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

Vakken collegejaar 2024/2025

Adres

Universiteit Twente

Carré (gebouwnr. 15), kamer C2015
Hallenweg 23
7522 NH Enschede

Navigeer naar locatie

Organisaties

Scan de QR-code of
Download vCard