Carré

dr.ir. J.M. Sturm (Marko)

Universitair docent
TNW-NEM-XUV
Carré C2019
j.m.sturm@utwente.nl
+31534891185
Visitekaartje

Ik heb technische natuurkunde gestudeerd aan de Technische Universiteit Eindhoven, gevolgd door een promotie bij de Universiteit Twente in 2006. Na 2 jaar als post-doc bij het Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft in Berlijn, kwam ik terug naar Nederland om bij het FOM-Instituut voor Plasmafysica Rijnhuizen in Nieuwegein te werken als onderzoeker. Sinds 2014, toen de huidige XUV-groep verhuisde van Nieuwegein naar de Universiteit Twente, ben ik lid van de wetenschappelijke staf van XUV.

In mijn studie en werk heb ik een sterke expertise ontwikkeld op het gebied van analyse van oppervlakken, depositie van dunne films en oppervlaktechemie.

Expertises

  • Chemistry

    • Surface
    • Liquid Film
    • Energy
    • Ion
    • Scattering

  • Material Science

    • Thin Films
    • Material

  • Physics

    • Ion Scattering

Organisaties

Mijn onderzoek richt zich op de groei van dunne films, met name voor toepassingen voor extreem-ultraviolet optische coatings. Daarnaast bestudeer ik de interactie van plasma, ionen en radicalen met oppervlakken van dunne films.

Publicaties

2024
Examining the influence of W thickness on the Si-on-W Interface: A comparative metrology analysis, Article 160615 (E-pub ahead of print/First online). Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E., Woitok, J. F., Lokhorst, H. W., Phadke, P. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160615Dual Modulation Scanning Tunneling Microscopy: a Quest for Subnanometer Chemical Contrast on Thin Films. University of Twente. Oldenkotte, V. J. S.https://doi.org/10.3990/1.9789036559416The effect of W thickness on the interface Si-on-W, a Low-Energy Ion Scattering study. Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E. & Ackermann, M.
2023
Interface smoothing in short-period W/B4C multilayers using neon ion beam polishing, Article 245303. IJpes, D., Yakshin, A., Sturm, J. M. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1063/5.0175793Role of Excess Bi on the Properties and Performance of BiFeO3 Thin-Film Photocathodes, 12237−12248. Prasad, N. P., Rohnke, M., Verheijen, M. A., Sturm, J. M., Hofmann, J. P., Hensen, E. J. M. & Bieberle-Hütter, A.https://doi.org/10.1021/acsaem.3c01926Growth and optical performance of short-period W/Al and polished W/Si/Al/Si multilayers, Article 155301. IJpes, D., Yakshin, A., Sturm, J. M. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1063/5.0168377Infrared emissivity of thin films based on molybdenum silicides with silicon. Baskakov, A., Golsanamlou, Z., van de Kruijs, R. W. E., Bokdam, M., Sturm, J. M. & Ackermann, M.Chemical Interaction of Hydrogen Radicals (H*) with Transition Metal Nitrides, 17770-17780. Rehman, A., Kruijs, R. W. E. v. d., Beld, W. T. E. v. d., Sturm, J. M. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.3c04490Resolving buried interfaces with low energy ion scattering, Article 043203. Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1116/6.0002567Implementing 0.1 nm B4C barriers in ultrashort period 1.0 nm W/Si multilayers for increased soft x-ray reflectance, Article 245301. IJpes, D., Yakshin, A., Sturm, J. M. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1063/5.0153322

Onderzoeksprofielen

Ik heb onderwijstaken in de volgende vakken:

Opticapracticum van module 6 (bachelor TN)

Surfaces and Thin Layers (master TN)

Nanolab practicum (master NT)

In onze onderzoeksgroep hebben we afstudeeropdrachten beschikbaar voor bachelor- en masterstudenten TN en voor masterstudenten NT.

Verbonden aan opleidingen

Vakken collegejaar 2023/2024

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

Vakken collegejaar 2022/2023

Adres

Universiteit Twente

Carré (gebouwnr. 15), kamer C2019
Hallenweg 23
7522 NH Enschede

Navigeer naar locatie

Organisaties

Scan de QR-code of
Download vCard