dr.ir. J.M. Sturm (Marko)

Ik heb technische natuurkunde gestudeerd aan de Technische Universiteit Eindhoven, gevolgd door een promotie bij de Universiteit Twente in 2006. Na 2 jaar als post-doc bij het Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft in Berlijn, kwam ik terug naar Nederland om bij het FOM-Instituut voor Plasmafysica Rijnhuizen in Nieuwegein te werken als onderzoeker. Sinds 2014, toen de huidige XUV-groep verhuisde van Nieuwegein naar de Universiteit Twente, ben ik lid van de wetenschappelijke staf van XUV.

In mijn studie en werk heb ik een sterke expertise ontwikkeld op het gebied van analyse van oppervlakken, depositie van dunne films en oppervlaktechemie.

Physics & Astronomy

# Ion Scattering
# Ruthenium
# Thin Films
# Transition Metals

Engineering & Materials Science

# Ions
# Thin Films
# Transition Metals

Chemistry

# Multilayer

Mijn onderzoek richt zich op de groei van dunne films, met name voor toepassingen voor extreem-ultraviolet optische coatings. Daarnaast bestudeer ik de interactie van plasma, ionen en radicalen met oppervlakken van dunne films.

Valpreda, A. , Sturm, J. M. , Yakshin, A. E. , & Ackermann, M. (2024). The effect of W thickness on the interface Si-on-W, a Low-Energy Ion Scattering study. Poster session presented at NWO Physics 2024, Veldhoven, Netherlands.

Oldenkotte, V. J. S. (2024). Dual Modulation Scanning Tunneling Microscopy: a Quest for Subnanometer Chemical Contrast on Thin Films. [PhD Thesis - Research UT, graduation UT, University of Twente]. University of Twente. https://doi.org/10.3990/1.9789036559416

Baskakov, A., Golsanamlou, Z. , van de Kruijs, R. W. E. , Bokdam, M. , Sturm, J. M. , & Ackermann, M. (2023). Infrared emissivity of thin films based on molybdenum silicides with silicon. Poster session presented at MESA+ Meeting 2023, Enschede, Netherlands.

IJpes, D. , Yakshin, A. , Sturm, J. M. , & Ackermann, M. (2023). Interface smoothing in short-period W/B4C multilayers using neon ion beam polishing. Journal of Applied Physics, 134(24), Article 245303. https://doi.org/10.1063/5.0175793

Prasad, N. P., Rohnke, M., Verheijen, M. A. , Sturm, J. M., Hofmann, J. P., Hensen, E. J. M., & Bieberle-Hütter, A. (2023). Role of Excess Bi on the Properties and Performance of BiFeO₃ Thin-Film Photocathodes. ACS Applied Energy Materials, 6(24), 12237−12248. https://doi.org/10.1021/acsaem.3c01926

Gaffarov, I. , Sturm, J. M., Vlooswijk, A., de Heij, P. , Ackermann, M. D. , & Makhotkin, I. A. (2023). Si transfer and self-limiting chemisorption on Ru thin film surface in hydrogen radicals environment. Poster session presented at SPIE Optics + Optoelectronics 2023, Prague, Czech Republic. https://spie.org/optics-optoelectronics/presentation/Si-transfer-and-self-limiting-chemisorption-on-Ru-thin-film/12578-20

IJpes, D. , Yakshin, A. , Sturm, J. M. , & Ackermann, M. (2023). Growth and optical performance of short-period W/Al and polished W/Si/Al/Si multilayers. Journal of Applied Physics, 134(15), Article 155301. https://doi.org/10.1063/5.0168377

Rehman, A. , Kruijs, R. W. E. V. D. , Beld, W. T. E. V. D. , Sturm, J. M. , & Ackermann, M. (2023). Chemical Interaction of Hydrogen Radicals (H*) with Transition Metal Nitrides. The Journal of physical chemistry C, 127(36), 17770-17780. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.3c04490

IJpes, D. , Yakshin, A. , Sturm, J. M. , & Ackermann, M. (2023). Implementing 0.1 nm B₄C barriers in ultrashort period 1.0 nm W/Si multilayers for increased soft x-ray reflectance. Journal of Applied Physics, 133(24), Article 245301. https://doi.org/10.1063/5.0153322

Valpreda, A. , Sturm, J. M. , Yakshin, A. E. , & Ackermann, M. (2023). Resolving buried interfaces with low energy ion scattering. Journal of vacuum science & technology A: vacuum, surfaces, and films, 41(4), Article 043203. https://doi.org/10.1116/6.0002567

Bekijk alle publicaties van deze medewerker

Ik heb onderwijstaken in de volgende vakken:

Opticapracticum van module 6 (bachelor TN)

Surfaces and Thin Layers (master TN)

Nanolab practicum (master NT)

In onze onderzoeksgroep hebben we afstudeeropdrachten beschikbaar voor bachelor- en masterstudenten TN en voor masterstudenten NT.

Bachelor

Technische Natuurkunde

Master

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

+31534891185

+31534894646 (bij geen gehoor)

j.m.sturm@utwente.nl

Bezoekadres

Universiteit Twente
Faculty of Science and Technology
Carré (gebouwnr. 15), kamer C2019
Hallenweg 21
7522NH Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Faculty of Science and Technology
Carré C2019
Postbus 217
7500 AE Enschede

Universiteit Twente Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede

+31 (0)53 489 9111
info@utwente.nl
Route

Welkom...

Universitair docent

Over mij

Expertises

Verbonden aan

Onderzoek

Publicaties

Pure Link

Onderwijs

Verbonden aan Opleidingen

Bachelor

Master

Vakken Collegejaar 2023/2024

Vakken Collegejaar 2022/2023

Contactgegevens

Bezoekadres

Postadres

Verbonden aan