University of Twente
Personen

Welkom...

dr.ir. J.M. Sturm (Marko)

Universitair docent

Expertises

Thin Films
Oxides
Electronegativity
Mirrors
Multilayers
Removal
Ions
Oxygen

Verbonden aan

Publicaties

Recent
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2018). Oxygen diffusion characterization in ultrathin films by low energy ion scattering.
Zameshin, A. A., Yakshin, A. E., Sturm, J. M., Brongerma, H. H., & Bijkerk, F. (2018). Double matrix effect in Low Energy Ion Scattering from La surfaces. Applied surface science, 440, 570-579. DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.01.174
Mund, B. K., Sturm, J. M., Lee, C. J., & Bijkerk, F. (2018). Aromatic structure degradation of single layer graphene on an amorphous silicon substrate in the presence of water, hydrogen and Extreme Ultraviolet light. Applied surface science, 427(Part B), 1033-1040. DOI: 10.1016/j.apsusc.2017.09.098
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2017). Oxygen diffusion characterization by depth-resolved low energy ion spectroscopy.
Coloma Ribera, R., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E., Yakshin, A., & Bijkerk, F. (2017). In-vacuo growth studies and thermal oxidation of ZrO2 thin films.
Kuznetsov, D., Yakshin, A., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E., Louis, E., & Bijkerk, F. (2017). Grazing-incidence La/B-based mirrors with “La surface nitridation” for 6.x nm wavelength.
Coloma Ribera, R., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E., Yakshin, A., & Bijkerk, F. (2017). In-vacuo growth studies and thermal oxidation of ZrO2 thin films.
Sturm, J. M., Coloma Ribera, R., van de Kruijs, R. W. E., Yakshin, A., & Bijkerk, F. (2017). In vacuo low-energy ions scattering studies of ZrO2 growth by magnetron sputtering. In In vacuo low-energy ions scattering studies of ZrO2 growth by magnetron sputtering
Kuznetsov, D. S., Yakshin, A. E., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2017). Thermal stability of high-reflectance La/B-based multilayers for 6.x nm wavelength. Journal of applied physics, 122(12), [125302]. DOI: 10.1063/1.5004128
Pachecka, M., Lee, C. J., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2017). Metal diffusion properties of ultra-thin high-k Sc2O3 films. AIP advances, 7(10), [105324]. DOI: 10.1063/1.5000030

Pure Link

Naar mijn profiel

Onderwijs

Ik heb onderwijstaken in de volgende vakken:

Opticapracticum van module 6 (bachelor TN)

Surfaces and Thin Layers (master TN)

Nanolab practicum (master NT)

In onze onderzoeksgroep hebben we afstudeeropdrachten beschikbaar voor bachelor- en masterstudenten TN en voor masterstudenten NT.

Verbonden aan Opleidingen

Bachelor

Master

Vakken

Contactgegevens

+31534894646  (bij geen gehoor)
 
 

Bezoekadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré (gebouwnr. 15), kamer 2019
Hallenweg 23
7522NH  Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré  2019
Postbus 217
7500 AE Enschede

Verbonden aan

Universiteit Twente Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede
+31 (0)53 489 9111
info@utwente.nl
Route