University of Twente
Personen

Welkom...

dr.ir. J.M. Sturm (Marko)

Universitair docent

Expertises

Thin Films
Energy
Ion Scattering
Mirrors
Modulus Of Elasticity
Graphene
Wavelengths
Tin

Verbonden aan

Publicaties

Recent
Phadke, P., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E., & Bijkerk, F. (2018). Sputter damage by low energy charged particle irradiation.
Milov, I., Makhotkin, I. A., Sobierajski, R., Medvedev, N., lipp, V., Chalupsky, J., ... Bijkerk, F. (2018). Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser. Optics express, 26(15), 19665-19685. DOI: 10.1364/OE.26.019665
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2018). Isotopic labelling study of oxygen diffusion in oxide thin films by low energy ion scattering. Poster session presented at 14th International Conference on Diffusion in Solids and Liquids 2018, Amsterdam, Netherlands.
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2018). Nanometer scale oxidation and oxygen diffusion at low temperature: Static and Isotope Exchange Depth Profile.
Mund, B. K., Sturm, J. M., Lee, C. J., & Bijkerk, F. (2018). Formation of H2O on a CO2 dosed Ru(0 0 0 1) surface under Extreme Ultraviolet Light and H2. Applied surface science, 456, 538-544. DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.06.166
Soroka, O., Sturm, J. M., van de Kruijs, R. W. E., Lee, C. J., & Bijkerk, F. (2018). Control of YH3 formation and stability via hydrogen surface adsorption and desorption. Applied surface science, 455, 70-74. DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.05.134
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2018). Oxygen diffusion characterization in ultrathin films by low energy ion scattering. Poster session presented at Physics@Veldhoven 2018, Veldhoven, Netherlands.
Zameshin, A. A., Yakshin, A. E., Sturm, J. M., Brongerma, H. H., & Bijkerk, F. (2018). Double matrix effect in Low Energy Ion Scattering from La surfaces. Applied surface science, 440, 570-579. DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.01.174
Mund, B. K., Sturm, J. M., Lee, C. J., & Bijkerk, F. (2018). Aromatic structure degradation of single layer graphene on an amorphous silicon substrate in the presence of water, hydrogen and Extreme Ultraviolet light. Applied surface science, 427(Part B), 1033-1040. DOI: 10.1016/j.apsusc.2017.09.098
Stilhano Vilas Boas, C. R., Sturm, J. M., & Bijkerk, F. (2017). Oxygen diffusion characterization by depth-resolved low energy ion spectroscopy.

Pure Link

Naar mijn profiel

Onderwijs

Ik heb onderwijstaken in de volgende vakken:

Opticapracticum van module 6 (bachelor TN)

Surfaces and Thin Layers (master TN)

Nanolab practicum (master NT)

In onze onderzoeksgroep hebben we afstudeeropdrachten beschikbaar voor bachelor- en masterstudenten TN en voor masterstudenten NT.

Verbonden aan Opleidingen

Bachelor

Master

Vakken

Contactgegevens

+31534894646  (bij geen gehoor)
 
 

Bezoekadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré (gebouwnr. 15), kamer C2019
Hallenweg 23
7522NH  Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Faculteit Technische Natuurwetenschappen
Carré  C2019
Postbus 217
7500 AE Enschede

Verbonden aan

Universiteit Twente Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede
+31 (0)53 489 9111
info@utwente.nl
Route