Expertises
Physics & Astronomy
# Ion Scattering
# Ruthenium
# Thin Films
# Transition Metals
Engineering & Materials Science
# Ions
# Thin Films
# Transition Metals
Chemistry
# Multilayer
Verbonden aan
Publicaties
Recent
Akhmetov, F.
, Milov, I., Semin, S., Formisano, F., Medvedev, N.
, Sturm, J. M., Zhakhovsky, V. V.
, Makhotkin, I. A., Kimel, A., & Ackermann, M. (2023).
Laser-induced electron dynamics and surface modification in ruthenium thin films.
Vacuum,
212, [112045].
https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2023.112045
Sturm, J. M., Lokhorst, H. W.
, Zameshin, A. A., & Ackermann, M. D. (2023).
Charge exchange between He+ ions and solid targets: The dependence on target electronic structure revisited.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms,
538, 47-57.
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2023.02.029
IJpes, D.
, Yakshin, A.
, Sturm, J. M., & Ackermann, M. (2023).
Increasing soft X-ray reflectance of short-period W/Si multilayers using B4C diffusion barriers.
Journal of Applied Physics,
133(2), [025302].
https://doi.org/10.1063/5.0130677
Valpreda, A.
, Zameshin, A.
, Sturm, J. M.
, Yakshin, A., & Ackermann, M. (2022).
Simulation of LEIS spectra: use of a Monte Carlo code to calculate reionization. Poster session presented at Physics@Veldhoven 2022, Veldhoven, Netherlands.
Sturm, J. M.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Phadke, P., & Ackermann, M. (2022).
LEIS analysis of thin Cu films on Ru: an unexpected result on sputter intermixing. Poster session presented at LEIS Workshop 2022, Brno.
Phadke, P.
, Zameshin, A. A.
, Sturm, J. M.
, van de Kruijs, R. W. E.
, & Bijkerk, F. (2022).
Sputter yields of monoatomic solids by Ar and Ne ions near the threshold: A Bayesian analysis of the Yamamura Model.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms,
520, 29-39.
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.03.016
Shavikof, A.
, Bijkerk, F.
, Schurink, B.
, Sturm, J. M.
, & van de Kruijs, R. W. E. (2021).
PELLICLE FOR EUV LITHOGRAPHY. (Patent No.
CN113646697).
Chandrasekaran, A.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Sturm, J. M.
, & Bijkerk, F. (2021).
Nb Texture Evolution and Interdiffusion in Nb/Si-Layered Systems.
ACS Applied Materials and Interfaces,
13(26), 31260-31270.
https://doi.org/10.1021/acsami.1c06210
Oldenkotte, V. J. S., Witmans, F. J.
, Siekman, M. H.
, de Boeij, P. L.
, Sotthewes, K.
, Castenmiller, C., Ackermann, M. D.
, Sturm, J. M.
, & Zandvliet, H. J. W. (2021).
Dual modulation STM: Simultaneous high-resolution mapping of the differential conductivity and local tunnel barrier height demonstrated on Au(111).
Journal of Applied Physics,
129(22), [225301].
https://doi.org/10.1063/5.0051403
Pure Link
Onderwijs
Ik heb onderwijstaken in de volgende vakken:
Opticapracticum van module 6 (bachelor TN)
Surfaces and Thin Layers (master TN)
Nanolab practicum (master NT)
In onze onderzoeksgroep hebben we afstudeeropdrachten beschikbaar voor bachelor- en masterstudenten TN en voor masterstudenten NT.
Verbonden aan Opleidingen
Bachelor
Master
Vakken Collegejaar 2022/2023
Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.
Vakken Collegejaar 2021/2022
Contactgegevens
Bezoekadres
Universiteit Twente
Faculty of Science and Technology
Carré
(gebouwnr. 15), kamer C2019
Hallenweg 23
7522NH Enschede
Postadres
Universiteit Twente
Faculty of Science and Technology
Carré
C2019
Postbus 217
7500 AE Enschede