Carré

prof.dr. J. Schmitz (Jurriaan)

Hoogleraar
EEMCS-EE-IDS
Carré C2617
j.schmitz@utwente.nl
+31534895767
Visitekaartje

Jurriaan Schmitz werd geboren in Elst, Nederland in 1967. Hij behaalde zijn M.Sc. (1990, met lof) en Ph.D. (1994) in Experimentele Fysica aan de Universiteit van Amsterdam op basis van onderzoek uitgevoerd aan het Nikhef onderzoeksinstituut. In 1990 was hij zomerstudent op CERN. Zijn onderzoekswerk richtte zich op nieuwe detectoren voor de positie en energie van hoogenergetische deeltjes, de zogenaamde MSGC-detector en Spaghetti-calorimeter. In deze periode stelde hij de Micro Trench Gas Counter voor, die gebruikmaakt van constant-veld in plaats van radiaal-veld gasversterking, later toegepast in de InGrid en GridPix technologie; en het DME/CO2-gasmengsel voor miniaturiseerde gasdetectoren.

Na zijn promotie trad hij in dienst bij Philips Research als Senior Scientist (1994-2002), waar hij CMOS-transistorschaling, karakterisatie en betrouwbaarheid bestudeerde. Hij werkte aan CMOS-transistors van de 0.25 μm tot de 90-nm generatie, waarbij hij supersteile retrograde wells, halo (pocket) implantatie, ondiepe juncties, GeSi-gates, gate-depletie en gate-last fabricage bestudeerde. Later richtte hij zich op karakterisatie en betrouwbaarheid van CMOS-componenten, en bestudeerde hij de meetproblemen die ontstonden door overmatig gate-lekkage. Hij stelde de RF-CV karakteriseringstechniek voor. Hij patenteerde verschillende nieuwe transistorarchitecturen evenals uitvindingen met betrekking tot embedded flash memory en CMOS-APS beeldsensoren.

In 2002 werd hij hoogleraar aan de Universiteit Twente als opvolger van prof. Hans Wallinga. Hij breidde zijn onderzoeksinteresses uit met above-IC-technologieën en licht-uit-silicium. Samen met zijn collega's en promovendi werkte hij aan diverse onderwerpen op het gebied van microfabricage, karakterisering en betrouwbaarheid. Momenteel leidt hij een onderzoeksgroep van ~30 mensen, de groep Integrated Devices and Systems. In de afgelopen jaren heeft hij zijn onderzoeks- en onderwijsfocus verlegd naar de energietransitie en fotovoltaïsche installaties.

Hij vervulde verschillende functies op internationale conferenties, waaronder IEEE IEDM, ESSDERC, IEEE IRPS en IEEE ICMTS. Ook was hij redacteur van IEEE Electron Device Letters in 2013-2017 en van MDPI Sensors in 2018-2022. Momenteel is hij redacteur van IEEE Transactions on Electron Devices en lid van de redactieraad van Elsevier's Solid State Electronics. Hij was bestuurslid van de Nederlandse Natuurkundige Vereniging (NNV), bestuurslid van SAFE, voorzitter van de IEEE EDS-afdeling Benelux en lid van de Program Council van het Materials Innovation Institute (M2i) en PointOne. Prof. Schmitz is (mede)auteur van meer dan 250 wetenschappelijke en conferentieartikelen, 20 patenten en drie boekhoofdstukken.

Expertises

  • Material Science

    • Silicon
    • Film
    • Electrical Resistivity
    • Tungsten
    • Solar Cell
    • Gallium
    • Light-Emitting Diode

  • Physics

    • Detectors

Organisaties

Publicaties

Jump to: 2026 | 2025 | 2024 | 2023

2026

Microanemometry: Mo(o)re or Less (2026)[Thesis › PhD Thesis - Research UT, graduation UT]. University of Twente. Hackett, T. L.https://doi.org/10.3990/1.9789036573269Thermal flow sensor with a thermally conductive structure in a CMOS stack (2026)[Patent › Patent] (Unpublished). Hackett, T. L., Alveringh, D. & Schmitz, J.A Dual-Mode Anemometer Fabricated in 65-nm CMOS BEOL Without Postprocessing (2026)IEEE Sensors Letters, 10(1), 1-4. Article 2500304. Hackett, T. L., Sanders, R. G. P., Alveringh, D. & Schmitz, J.https://doi.org/10.1109/LSENS.2025.3636592Inline Characterization of Polysilicon Layers in TOPCon Solar Cell Precursors With Reflectance Spectroscopy (2026)IEEE journal of photovoltaics, 16(1), 113-119. Kumar, S., Narayan, H., Diestel, C., Schmitz, J., Haunschild, J., Rein, S. & Rupitsch, S. J.https://doi.org/10.1109/JPHOTOV.2025.3619977

2025

Applying Machine Learning to a 1D CMOS-MEMS Anemometer for Angle Detection and Range Extension (2025)IEEE Sensors Letters, 9(10). Article 6010904. Holm, L., Hackett, T. L., Schmitz, J., Wiegerink, R. J., Lötters, J. C. & Alveringh, D.https://doi.org/10.1109/LSENS.2025.3605012A Silicon-Based Combined Hot-Element and Calorimetric Anemometer (2025)IEEE sensors journal, 25(13), 23645-23652. Hackett, T. L., Veltkamp, H.-W., Sanders, R. G. P., van den Berg, T. E., Alveringh, D. & Schmitz, J.https://doi.org/10.1109/JSEN.2025.3570456Monitoring the thickness of white Sn thin island films by spectroscopic ellipsometry (2025)Journal of vacuum science & technology A: vacuum, surfaces, and films, 43(3). Article 033410. Onnink, A. J., Schmitz, J., Terbonssen, B. & Kovalgin, A. Y.https://doi.org/10.1116/6.0004370Viewing Stomata in Action: Autonomous in Planta Imaging of Individual Stomatal Movement (2025)Plant, cell and environment, 48(6), 4533-4549. van den Berg, T. E., Sanders, R. G. P., Kaiser, E. & Schmitz, J.https://doi.org/10.1111/pce.15436Inline Mapping of Amorphous Silicon Layer Thickness of Heterojunction Precursors Using Multispectral Imaging (2025)In SiliconPV 2024: 14th International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics. Article 1324 (SiliconPV Conference Proceedings; Vol. 2). TIB Open Publishing. Kumar, S., Diestel, C., Al-Hajjawi, S., Schmitz, J., Hemsendorf, M., Haunschild, J., Rupitsch, S. J. & Rein, S.https://doi.org/10.52825/siliconpv.v2i.1324

2024

Advances in 2D Anemometry (2024)[Contribution to conference › Poster] IEEE SENSORS 2024. Hackett, T. L., Sanders, R. G. P., Choi, J. Y., Džemaili, N., Winnen, V., van den Berg, T. E., Alveringh, D. & Schmitz, J.Design Parameter Comparison for a Silicon-based Directional Low Drift Thermal Anemometer for Horticultural Applications (2024)[Contribution to conference › Abstract] 50th International Micro and Nano Engineering Conference, MNE 2024. Hackett, T., Sanders, R. G. P., Alveringh, D. & Schmitz, J.A Machine Learning Enhanced MEMS Thermal Anemometer for Detection of Flow, Angle of Attack, and Relative Humidity (2024)IEEE Sensors Letters, 8(7). Article 6008304. Hackett, T., Sanders, R. G. P., Schmitz, J., Alveringh, D., van den Berg, T. E. & Choi, J. Y.https://doi.org/10.1109/LSENS.2024.3418193Viewing stomata in action: Autonomous in planta imaging of individual stomatal movement links morphology and kinetics (2024)[Working paper › Preprint]. bioRxiv. Berg, T. E. v. d., Sanders, R. G. P., Kaiser, E. & Schmitz, J.https://doi.org/10.1101/2024.03.13.584774A Multi-Parameter measurement system for MEMS Anemometers for Data Collection with Machine Learning Outcomes (2024)[Contribution to conference › Poster] 5th Conference on MicroFluidic Handling Systems, MFHS 2024. Hackett, T. L., Sanders, R. G. P., van den Berg, T. E., Alveringh, D. & Schmitz, J.A Multi-Parameter Measurement System for MEMS Anemoters for Data Collection with Machine Learning Outcomes (2024)[Contribution to conference › Paper] 5th Conference on MicroFluidic Handling Systems, MFHS 2024. Hackett, T., Alveringh, D., Sanders, R. G. P., van den Berg, T. E. & Schmitz, J.From hot wire to cold finger:methods to detect the unstable product SnH4 of Sn etching (2024)[Contribution to conference › Poster] E-MRS Spring Meeting 2024. Onnink, A., Aarnink, A. A. I., Schmitz, J. & Kovalgin, A.Improved Accuracy of Photoluminescence Images for Quality Control in Solar Cell Production (2024)[Contribution to conference › Poster] 42nd EU Photovoltaic Science and Engineering Conference, EU PVSEC 2024. Wienberg, R., Haunschild, J., Kumar, S., Schmitz, J. & Rein, S.PV Performance and Reliability Research: A Vision on Better Connecting Upstream and Downstream Data for Lifecycle Management of PV Technologies (2024)[Contribution to conference › Poster] 2024 Photovoltaic Reliability Workshop. van der Heide, A., Kyranaki, N., Reinders, A. H. M. E., Sark, van, w., Schmitz, J. & van der Sluis, O.

2023

Fluid classification with integrated flow and pressure sensors using machine learning (2023)Sensors and Actuators A: Physical, 363. Article 114762. Alveringh, D., Le, D. V., Groenesteijn, J., Schmitz, J. & Lötters, J. C.https://doi.org/10.1016/j.sna.2023.114762Characterisation of Photodiodes in 22 nm FDSOI at 850 nm (2023)In ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) (pp. 65-68). IEEE. Bakker, J. H. T., Oude Alink, M. S., Schmitz, J. & Nauta, B.https://doi.org/10.1109/ESSDERC59256.2023.10268483Thermal Resistivity of FFF Printed Carbon Black Doped Polymers (2023)In 2023 IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS). IEEE. Jonkers, H., Kosmas, D., Schmitz, J. & Krijnen, G.https://doi.org/10.1109/FLEPS57599.2023.10220388Corrigendum to “Inaccuracies in contact resistivity from the Cox–Strack method: A review”: [Sol. Energy Mater. Sol. Cells 246 (2022) 111909] (2023)Solar Energy Materials and Solar Cells, 254. Article 112254. van Wijngaarden, B., Yang, J. & Schmitz, J.https://doi.org/10.1016/j.solmat.2023.112254In-depth analysis of potential-induced degradation in a commercial CIGS PV module (2023)Progress in Photovoltaics, 31(6). Yilmaz, P., de Wild, J., Aninat, R., Weber, T., Vermang, B., Schmitz, J. & Theelen, M.https://doi.org/10.1002/pip.3670The world of chips: How do you make chips? (2023)[Non-textual form › Digital or Visual Products]. Ackermann, M., Nauta, B. & Schmitz, J.https://www.utwente.nl/nl/sg/programma/2023/3/386762/de-wereld-van-chips?code=4abdccddPerformance and Degradation in Silicon PV Systems Under Outdoor Conditions in Relation to Reliability Aspects of Silicon PV Modules - Summary of Results of COST Action PEARL PV (2023)In 2023 IEEE 50th Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2023. IEEE. Lindig, S., Ascencio-Vásquez, J., Leloux, J., Moser, D., Aghaei, M., Fairbrother, A., Gok, A., Ahmad, S., Kazim, S., Lobato, K., Van Sark, W. J. G. H. M., Pearsall, N., Burduhos, B. G., Raghoebarsing, A., Oreski, G., Schmitz, J., Theelen, M., Yilmaz, P., Kettle, J. & Reinders, A. H. M. E.https://doi.org/10.1109/PVSC48320.2023.10359742

Onderzoeksprofielen

Verbonden aan opleidingen

Vakken collegejaar 2026/2027

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

Vakken collegejaar 2025/2026

QR codeScan de QR-code of
Download vCard