Expertises

  • Material Science

    • Surface
    • Fluorescence
    • Temperature
    • Characterization
    • Reflectivity
  • Physics

    • Electrons
    • Thin Films
  • Chemistry

    • Liquid Film

Organisaties

Publicaties

2024

Examining the influence of W thickness on the Si-on-W Interface: A comparative metrology analysis (2024)Applied surface science, 670. Article 160615 (E-pub ahead of print/First online). Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E., Woitok, J. F., Lokhorst, H. W., Phadke, P. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160615Ab initio-simulated optical response of hot electrons in gold and ruthenium (2024)Optics express, 32(11), 19117-19132. Akhmetov, F., Vorberger, J., Milov, I., Makhotkin, I. & Ackermann, M.https://doi.org/10.1364/OE.522772Electron and lattice response to ultrafast laser excitation: Exploring temperature dynamics in transition metals (2024)[Thesis › PhD Thesis - Research UT, graduation UT]. University of Twente. Akhmetov, F.https://doi.org/10.3990/1.9789036561297The interface study of photoresist/underlayer using hybrid x-ray reflectivity and x-ray standing wave approach (2024)[Contribution to conference › Paper] SPIE Advanced Lithography + Patterning, 2024. Tiwari, A., Fallica, R., Ackermann, M. & Makhotkin, I. A.X-ray standing wave characterization of the strong metal–support interaction in Co/TiOx model catalysts (2024)Journal of applied crystallography, 57(Part 2), 481 - 491. Tiwari, A., Monai, M., Matveevskii, K., Yakunin, S. N., Mandemaker, L. D. B., Tsvetanova, M., Goodwin, M. J., Ackermann, M. & Makhotkin, I. A.https://doi.org/10.1107/S1600576724001730Dual Modulation Scanning Tunneling Microscopy: a Quest for Subnanometer Chemical Contrast on Thin Films (2024)[Thesis › PhD Thesis - Research UT, graduation UT]. University of Twente. Oldenkotte, V. J. S.https://doi.org/10.3990/1.9789036559416Oxidation of thin film binary entropy alloys (2024)[Contribution to conference › Poster] NWO Physics 2024. Homsma, M., van den Beld, W., van de Kruijs, R. W. E. & Ackermann, M.The effect of W thickness on the interface Si-on-W, a Low-Energy Ion Scattering study (2024)[Contribution to conference › Poster] NWO Physics 2024. Valpreda, A., Sturm, J. M., Yakshin, A. E. & Ackermann, M.

Onderzoeksprofielen

Vakken collegejaar 2024/2025

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

Vakken collegejaar 2023/2024

Adres

Universiteit Twente

Carré (gebouwnr. 15)
Hallenweg 23
7522 NH Enschede

Navigeer naar locatie

Organisaties

Scan de QR-code of
Download vCard