dr.ir. R.W.E. van de Kruijs (Robbert)

Physics & Astronomy

# Grazing Incidence
# Laminates
# Mirrors
# Reflectance
# Thin Films
# X Rays

Engineering & Materials Science

# Multilayers

Chemistry

# Multilayer

Faculty of Science and Technology (TNW), XUV Optics (XUV)

Phadke, P. , Zameshin, A. A. , Sturm, J. M. , van de Kruijs, R. W. E. , & Bijkerk, F. (2022). Sputter yields of monoatomic solids by Ar and Ne ions near the threshold: A Bayesian analysis of the Yamamura Model. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 520, 29-39. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.03.016

Shafikov, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , Schurink, B. , van den Beld, W. T. E. , Houweling, Z. S. , Kooi, B. J. , Ahmadi, M., de Graaf, S. , & Bijkerk, F. (2022). Relation between composition and fracture strength in off-stoichiometric metal silicide free-standing membranes. Intermetallics, 144, [107531]. https://doi.org/10.1016/j.intermet.2022.107531

Shafikov, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , van den Beld, W. , Houweling, Z. S. , & Bijkerk, F. (2022). Fracture Toughness of Free-Standing ZrSiₓ Thin Films Measured Using Crack-on-a-Chip Method. Journal of microelectromechanical systems, 31(1), 63-73. https://doi.org/10.1109/JMEMS.2021.3128760

Kizir, S. , van den Beld, W. T. E. , Verbakel, J. D. , Pushkarev, R., Houweling, Z. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , & Bijkerk, F. (2021). Hydrogen etch resistance of aluminium oxide passivated graphitic layers. Journal of physics D: applied physics, 54(50), [505304]. https://doi.org/10.1088/1361-6463/ac2200

Shafikov, A. , Schurink, B. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , van den Beld, W. , Houweling, Z. S. , & Bijkerk, F. (2021). Strengthening ultrathin Si₃N₄membranes by compressive surface stress. Sensors and actuators. A: Physical, 317, [112456]. https://doi.org/10.1016/j.sna.2020.112456

Kizir, S. , van den Beld, W. T. E. , Schurink, B. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , & Bijkerk, F. (2021). Bifunctional catalytic effect of Mo₂C/oxide interface on multi-layer graphene growth. Scientific reports, 11(1), [15377]. https://doi.org/10.1038/s41598-021-94694-4

Shavikof, A. , Bijkerk, F. , Schurink, B. , Sturm, J. M. , & van de Kruijs, R. W. E. (2021). PELLICLE FOR EUV LITHOGRAPHY. (Patent No. CN113646697).

Chandrasekaran, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Sturm, J. M. , & Bijkerk, F. (2021). Nb Texture Evolution and Interdiffusion in Nb/Si-Layered Systems. ACS Applied Materials and Interfaces, 13(26), 31260-31270. https://doi.org/10.1021/acsami.1c06210

Shafikov, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Schurink, B. , Benschop, J. P. H. , & Bijkerk, F. (2020). Mechanical properties of polycrystalline metal silicide thin films. Poster session presented at Physics@Veldhoven 2020, veldhoven, Netherlands.

Phadke, P. , Sturm, J. M. , van de Kruijs, R. W. E. , & Bijkerk, F. (2020). Sputtering and nitridation of transition metal surfaces under low energy, steady state nitrogen ion bombardment. Applied surface science, 505, [144529]. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.144529

Bekijk alle publicaties van deze medewerker

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

+31534894415

r.w.e.vandekruijs@utwente.nl

Bezoekadres

Universiteit Twente
Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Postbus 217
7500 AE Enschede

Faculty of Science and Technology (TNW), XUV Optics (XUV)

Universiteit Twente Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede

+31 (0)53 489 9111
info@utwente.nl
Route

Welkom...

dr.ir. R.W.E. van de Kruijs (Robbert)

Universitair docent

Expertises

Verbonden aan

Publicaties

Pure Link

Vakken Collegejaar 2021/2022

Vakken Collegejaar 2020/2021

Contactgegevens

Bezoekadres

Postadres

Verbonden aan