dr.ir. R.W.E. van de Kruijs (Robbert)

Physics & Astronomy

# Grazing Incidence
# Laminates
# Mirrors
# Reflectance
# Thin Films
# X Rays

Engineering & Materials Science

# Multilayers

Chemistry

# Multilayer

Faculty of Science and Technology (TNW), XUV Optics (XUV)

Shafikov, A. (2022). Fracture behavior and characterization of free-standing metal silicide thin films. University of Twente. https://doi.org/10.3990/1.9789036554251

Sturm, J. M. , van de Kruijs, R. W. E. , Phadke, P. , & Ackermann, M. (2022). LEIS analysis of thin Cu films on Ru: an unexpected result on sputter intermixing. Poster session presented at LEIS Workshop 2022, Brno.

Schurink, B. , van den Beld, W. , Tiggelaar, R. M. , van de Kruijs, R. W. E. , & Bijkerk, F. (2022). Synthesis and Characterization of Boron Thin Films Using Chemical and Physical Vapor Depositions. Coatings, 12 (5), [685]. https://doi.org/10.3390/coatings12050685

Phadke, P. , Zameshin, A. A. , Sturm, J. M. , van de Kruijs, R. W. E. , & Bijkerk, F. (2022). Sputter yields of monoatomic solids by Ar and Ne ions near the threshold: A Bayesian analysis of the Yamamura Model. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 520, 29-39. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.03.016

Shafikov, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , Schurink, B. , van den Beld, W. T. E. , Houweling, Z. S. , Kooi, B. J. , Ahmadi, M., de Graaf, S. , & Bijkerk, F. (2022). Relation between composition and fracture strength in off-stoichiometric metal silicide free-standing membranes. Intermetallics, 144, [107531]. https://doi.org/10.1016/j.intermet.2022.107531

Shafikov, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , van den Beld, W. , Houweling, S. , & Bijkerk, F. (2022). Fracture Toughness of Free-Standing ZrSiₓ Thin Films Measured Using Crack-on-a-Chip Method. Journal of microelectromechanical systems, 31(1), 63-73. https://doi.org/10.1109/JMEMS.2021.3128760

Shavikof, A. , Bijkerk, F. , Schurink, B. , Sturm, J. M. , & van de Kruijs, R. W. E. (2021). PELLICLE FOR EUV LITHOGRAPHY. (Patent No. CN113646697).

Kizir, S. , van den Beld, W. T. E. , Verbakel, J. D. , Pushkarev, R. , Houweling, Z. S. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , & Bijkerk, F. (2021). Hydrogen etch resistance of aluminium oxide passivated graphitic layers. Journal of physics D: applied physics, 54(50), [505304]. https://doi.org/10.1088/1361-6463/ac2200

Kizir, S. , van den Beld, W. T. E. , Schurink, B. , van de Kruijs, R. W. E. , Benschop, J. P. H. , & Bijkerk, F. (2021). Bifunctional catalytic effect of Mo₂C/oxide interface on multi-layer graphene growth. Scientific reports, 11(1), [15377]. https://doi.org/10.1038/s41598-021-94694-4

Chandrasekaran, A. , van de Kruijs, R. W. E. , Sturm, J. M. , & Bijkerk, F. (2021). Nb Texture Evolution and Interdiffusion in Nb/Si-Layered Systems. ACS Applied Materials and Interfaces, 13(26), 31260-31270. https://doi.org/10.1021/acsami.1c06210

Bekijk alle publicaties van deze medewerker

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

+31534894415

r.w.e.vandekruijs@utwente.nl

Bezoekadres

Universiteit Twente
Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede

Navigeer naar locatie

Postadres

Universiteit Twente
Postbus 217
7500 AE Enschede

Faculty of Science and Technology (TNW), XUV Optics (XUV)

Universiteit Twente Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede

+31 (0)53 489 9111
info@utwente.nl
Route

Welkom...

dr.ir. R.W.E. van de Kruijs (Robbert)

Universitair docent

Expertises

Verbonden aan

Publicaties

Pure Link

Vakken Collegejaar 2022/2023

Vakken Collegejaar 2021/2022

Contactgegevens

Bezoekadres

Postadres

Verbonden aan