Expertises
Physics & Astronomy
# Grazing Incidence
# Laminates
# Mirrors
# Reflectance
# Thin Films
# X Rays
Engineering & Materials Science
# Multilayers
Chemistry
# Multilayer
Verbonden aan
Publicaties
Recent
Phadke, P.
, Zameshin, A. A.
, Sturm, J. M.
, van de Kruijs, R. W. E.
, & Bijkerk, F. (2022).
Sputter yields of monoatomic solids by Ar and Ne ions near the threshold: A Bayesian analysis of the Yamamura Model.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms,
520, 29-39.
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2022.03.016
Shafikov, A.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Benschop, J. P. H.
, Schurink, B.
, van den Beld, W. T. E.
, Houweling, Z. S.
, Kooi, B. J.
, Ahmadi, M., de Graaf, S.
, & Bijkerk, F. (2022).
Relation between composition and fracture strength in off-stoichiometric metal silicide free-standing membranes.
Intermetallics,
144, [107531].
https://doi.org/10.1016/j.intermet.2022.107531
Shafikov, A.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Benschop, J. P. H.
, van den Beld, W.
, Houweling, Z. S.
, & Bijkerk, F. (2022).
Fracture Toughness of Free-Standing ZrSiₓ Thin Films Measured Using Crack-on-a-Chip Method.
Journal of microelectromechanical systems,
31(1), 63-73.
https://doi.org/10.1109/JMEMS.2021.3128760
Kizir, S.
, van den Beld, W. T. E.
, Verbakel, J. D.
, Pushkarev, R., Houweling, Z.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Benschop, J. P. H.
, & Bijkerk, F. (2021).
Hydrogen etch resistance of aluminium oxide passivated graphitic layers.
Journal of physics D: applied physics,
54(50), [505304].
https://doi.org/10.1088/1361-6463/ac2200
Shafikov, A.
, Schurink, B.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Benschop, J. P. H.
, van den Beld, W.
, Houweling, Z. S.
, & Bijkerk, F. (2021).
Strengthening ultrathin Si3N4 membranes by compressive surface stress.
Sensors and actuators. A: Physical,
317, [112456].
https://doi.org/10.1016/j.sna.2020.112456
Shavikof, A.
, Bijkerk, F.
, Schurink, B.
, Sturm, J. M.
, & van de Kruijs, R. W. E. (2021).
PELLICLE FOR EUV LITHOGRAPHY. (Patent No.
CN113646697).
Chandrasekaran, A.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Sturm, J. M.
, & Bijkerk, F. (2021).
Nb Texture Evolution and Interdiffusion in Nb/Si-Layered Systems.
ACS Applied Materials and Interfaces,
13(26), 31260-31270.
https://doi.org/10.1021/acsami.1c06210
Shafikov, A.
, van de Kruijs, R. W. E.
, Schurink, B.
, Benschop, J. P. H.
, & Bijkerk, F. (2020).
Mechanical properties of polycrystalline metal silicide thin films. Poster session presented at Physics@Veldhoven 2020, veldhoven, Netherlands.
Pure Link
Vakken Collegejaar 2021/2022
Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.
Vakken Collegejaar 2020/2021
Contactgegevens
Bezoekadres
Universiteit Twente
Drienerlolaan 5
7522 NB Enschede
Postadres
Universiteit Twente
Postbus 217
7500 AE Enschede