Zilverling

T.T. Smit (Tijmen)

Promovendus
EEMCS-CS-CAES
Zilverling 5054
t.t.smit@utwente.nl
Visitekaartje

Expertises

  • Computer Science

    • Fault Injection
    • Field Programmable Gate Arrays
    • Bloom Filter

  • Engineering

    • Bit Error
    • Error Detection
    • Soft Error
    • Neutron Beam
    • Single Bit

Organisaties

Publicaties

2026

Instruction Error Detection with Bloom Filters: Architecture, Radiation Testing and Fault Injection (2026)IEEE transactions on device and materials reliability. Article 11580390 (E-pub ahead of print/First online). Cishugi, E. S., Smit, T. T., Forlin, B., Cazzaniga, C., Chen, K.-H. & Ottavi, M.https://doi.org/10.1109/TDMR.2026.3707731

2025

Bloom Filters for Soft Error Detection: Neutron and Fault Injection Validation (2025)In 2025 IEEE 31st International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Article 11116913 (IEEE Symposium on On-Line Testing (IOLTS); Vol. 2025). IEEE Advancing Technology for Humanity. Cishugi, E. S., Smit, T. T., Forlin, B., Cazzaniga, C., Chen, K.-H. & Ottavi, M.https://doi.org/10.1109/IOLTS65288.2025.11116913

2024

An Enhanced Fault Injection Framework for FPGA-Based Soft-Cores (2024)In 2024 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). Article 10753564. IEEE. Smit, T. T., Forlin, B. E., Chen, K.-H., Souvatzoglou, I., Psarakis, M. & Ottavi, M.https://doi.org/10.1109/DFT63277.2024.10753564

Onderzoeksprofielen

Vakken collegejaar 2025/2026

Vakken in het huidig collegejaar worden toegevoegd op het moment dat zij definitief zijn in het Osiris systeem. Daarom kan het zijn dat de lijst nog niet compleet is voor het gehele collegejaar.

Vakken collegejaar 2024/2025

QR codeScan de QR-code of
Download vCard